จำหน่าย_ขาย และบริการ SEM (Scanning Electron Microscope)และ EDS (Energy Dispersive X-ray) ,SemAfore, SPUTTER Coater มือสอง สภาพดีมาก พร้อมติดตั้ง และสอนใช้งาน, SEM กำลังขยายสูง สามารถดู SEI,BEI,COMPO,TOPO โหมด EDS Full Option พร้อมโปรแกรม SemAfore ดึงภาพดิจิตอล,วัดขนาด และเครื่องฉาบเคลือบทอง Sputter Coater จำหน่ายทั้งชุด
** รายละเอียดไฟล์ PDF. เพิ่มเติมคลิก Jeol Scanning electron microscope JSM 5400.pdf และ For sale sem eds semafore sputter.pdf
รายละเอียด :
SEM (Scanning Electron Microscope) JEOL
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SCANNING ELECTRON MICROSCOPE,SEM
ภาพที่ได้จากเครื่อง SEM 1.ภาพแบบ SEI (Secondary electron image)
2.ภาพแบบ BEI (Backscattered electron image) 2.1 BEI ภาพแบบ COMPO (compositional mode) แยกความแตกต่างตาม atomic number, Z
2.2 BEI ภาพแบบ TOPO (topographic) ภาพแบบมีมิติ,3มิติ
2.3 BEI ภาพแบบ SHADOW (COMPO/TOPO+SHADOW)
SEM Mode ที่บริการ
1.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ HV Mode (HV SEM , high vacuum mode)
2.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ LV Mode (LV SEM , Low vacuum mode)
3.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ HV Mode (HV SEM , high vacuum mode)พร้อมวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/เชิงคุณภาพ
4.ให้บริการเครื่อง SEM แบบ LV Mode (LV SEM , Low vacuum mode)พร้อมวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/เชิงคุณภาพ
* LV SEM หรือ Low vacuum เป็นศัพท์เทคนิคการใช้SEM ในโหมดสุญญากาศต่ำของ SEM ยี่ห้อ JEOL ส่วนศัพท์เทคนิค ของ SEMยี่ห้ออื่นๆจะมีศัพท์เทคนิคเช่น VP SEM, E SEM, EP SEM, N SEM, WET SEM การทำงานของเครื่องSEM จะเหมือนๆกัน สามารถดูตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้าได้ ตัวอย่างมีความชื้นอยู่บ้างไม่มาก และเป็นการไม่ทำลายตัวอย่าง
- Filament แบบทังสเตน (W) K-Type
- กำลังขยาย X15 - X200,000 เท่า
- SEI Image resolution 3.5 nm.
- BEI Image resolution 4.5 nm. TOPO Mode, COMPO Mode,
- High Vacuum mode
- Low Vacuum mode (BEI)ไม่ต้อง coating ตัวอย่างก่อนเข้า SEM
EDS (Energy Dispersive X-Ray) OXFORD
- Detector Resolution 133 ev.
- วิเคราะห์ได้ตั้งแต่ B(โบรอน) - U(ยูเรเนียม)
- Detection limit 0.1 % สามารถวิเคราะห์ %ธาตุได้ตังแต่ 0.1%ขึ้นไป
- วิเคราะห์เชิงคุณภาพ Qualitative
- วิเคราะห์เชิงปริมาณ Quantitative
- Mapping และ Line scan แบบ Speed map
- Quant Mapping และQuant Line scan แบบ Quant
- Phase measurement
- Area Measurement
- Cameo
- Beam Track
- Auto Beam
EDS Services วิเคราะห์ะธาตุ เชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ (Qualitative and Quantitative analysis) ตั้งแต่ธาตุ Bโบรอน- U ยูเรเนียม, Detection limit 0.1%
การวิเคราะห์เชิงปริมาณ Quantitative การวิเคราะเชิงปริมาณ Quantitative Analysis หาปริมาณ%ธาตุในตัวอย่าง, Element% ,Atomic%
การวิเคราะเชิงคุณภาพ Qualitative Analysis
สามารถวิเคราะห์ได้ตั้งแต่ธาตุ B ถึง U ตามตารางธาตุ Resolution 133 ev.
วิเคราะห์แบบ Mapping ธรรมดา(Speed mapping)
วิเคราะห์แบบ Mapping (Speed maping) Speed maping ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง
Mix Mapping
Speed mapping
Mix Mapping
การวิเคราะห์ธาตุ Line scan (speed Linescan)
การวิเคราะห์ธาตุ Line scan (speed linescan) Speed linescan ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง
Mix Linescan
Speed Linescan
Speed Linescan
Quant Mapping ใช้เวลาทำ 4-6 ชม. /ตำแหน่ง
* Mapping แบบ Speed map ใช้เวลาทำ 2-5 นาที / ตำแหน่ง
** ติดต่อเจ้าหน้าที่ขอรายละเอียดเพิ่มเติมกรณีทำ Quant Mapping ค๊ะ
Quant Line Scan
Quant Line Scan
Quant Line Scan แบบ Mix
รูป Auto Beam แบบ 1 Point และ Area analysis
Auto Beam แบบกำหนดจุด 1 จุด
Muti point Analysis
Muti point Analysis (เชิงปริมาณ)
Muti point Analysis (เชิงคุณภาพ)
Muti point Analysis (เชิงคุณภาพ)
Muti point Analysis (เชิงปริมาณแบบหาค่าเฉลี่ย จากทุกจุดที่ยิง)
Area Measurement
CAMEO Analysis
Phase Measurement
SemAfore Ver 5.0 JEOL
- ดึงภาพดิจิตอลไฟล์จากเครื่อง SEM เป็นไฟล์ .BMP, JPEG, PNG, TIFF และอื่นๆได้
- สามารถวัดขนาดตัวอย่างได้
- สามารถวัดพื้นที่ตัวอย่างได้
- สามารถวัดมุมตัวอย่างได้
- สามารถใส่Text บนตัวอย่างได้
- สามารถนับจำนวนตัวอย่างได้
SPUTTER COATER Fison VG Microtech
- สำหรับฉาบเคลือบทองบนผิวตัวอย่าง เพื่อให้นำไฟฟ้า ก่อนเข้าเครื่อง SEM ใช้อาร์กอนช่วยในการฉาบเฉลือบให้สมบูรณ์ยิ่งขึ้น
- สามารถลดความชื้นตัวอย่างที่มีความชื้นสูง ก่อนนำเข้า SEMได้
อื่นๆ
- พร้อมติดตั้ง ทั่วประเทศ โดยช่างชำนาญการที่มากประสบการณ์ ผ่านงานด้าน SEM/EDS ไม่ต่ำกว่า 18 ปี
- อบรมการใช้เครื่อง On site ให้ 3 วัน
- PM/ Column cleaning ให้ฟรี 1 ครั้ง ภายในระยะเวลา 1 ปี
สนใจสอบถามราคาและรายละเอียดเพิ่มเติม
** รายละเอียดเพิ่มเติมคลิก
www.dosem24hr.com
สะเก็ดแผล ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ คลิก
วิเคราะห์อิฐมวลเบา อิฐเบา อิฐขาว ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM,EDS/EDX คลิก
แป้งเด็ก แป็งเย็น ผงแป้ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS,EDX คลิก
เทคนิคการวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS หรือ EDX, WDX หรือ WDS, และ EPMA แบบใหนดีกว่ากัน คลิก
วิเคราะห์เส้นผม วิเคราะห์เส้นขน คลิก
มหัศจรรย์ผึ้งน้อย คลิก
จุลินทรีย์ คือสิ่งสิ่งมีชีวิตที่สายตาเปล่า คนเรามองไม่เห็น คลิก
การวิเคราะห์เส้นใย สิ่งทอ เส้นไหม เส้นใยสังเคราะห์ fibers คลิก
การวิเคราะห์ความเสียหายวัสดุและอุปกรณ์ ในวงการอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ ฮาร์ดดิสก์ ไฟฟ้า คลิก
แร่ธาตุในข้าวหอมมะลิ คลิก
ผงชูรส และผงปรุงรส คลิก
วิเคราะห์สิว ด้วยกล้องจุลทรรศน์ คลิก
ความมหัศจรรย์ของหนวดหรือเคราฤาษี คลิก
ปากดีของมดดำ คลิก
ผมมันชั่ว ผมมันเลว คลิก
ฟองน้ำ ฟองน้ำ คลิก
เชื่อหรือไม่ว่าคือขนมปัง คลิก
แกงไก่หน่อไม้ดองคลิก
มาจุดธูปขอหวยกัน คลิก
พระเครื่องเก่าแก่ คลิก
บ้านและสวนสวย คลิก
ไม่มีความคิดเห็น:
แสดงความคิดเห็น