วันพุธที่ 10 กรกฎาคม พ.ศ. 2556

วิเคราะห์ผ้าเบรค Brake Pad Analysis ด้วยเครื่อง SEM,EDS แบบไม่ทำลายตัวอย่าง

วิเคราะห์ผ้าเบรค Brake Pad Analysis ด้วยเครื่อง SEM,EDS แบบไม่ทำลายตัวอย่าง

ผ้าเบรคมีหลายแบบ ใช้กับรถจักรยานยนต์ รถยนต์ ซึ่งรถยนต์ก็จะมีขนาดเล็ก ขนาดกลาง
และใช้กับรถบรรทุกขนาดใหญ่ เป็นต้น นอกจากนั้นยังมีชนิดของผ้าเบรคแบบอ่อน แบบแข็ง
และอื่นๆเป็นต้น แต่ละยี่ห้อก็จะมีส่วนผสมและการกระจายตัวของวัสดุที่นำมาทำก็จะแตกต่าง
กันออกไป และจะเป็นตัวที่เช็คคุณภาพผ้าเบรคได้ในระดับหนึ่ง




บทความนี้
เราจะเสนอผ้าเบรคที่ใช้กับรถเก่งขนาดกลาง ลักษณะผ้าเบรคตามภาพล่าง เป็น
ผ้าเบรคผ่านการใช้งานมาแล้ว 5 หมื่นกิโล เราจะนำเข้าเครื่องแบบนี้เลย โดยที่ไม่ต้องฉาบ
เคลือบทอง ,คาร์บอน หรือสารอื่นๆให้นำไฟฟ้า ก่อนเข้าเครื่องวิเคราะห์ด้วยเครื่อง SEM,EDS

ข้อดี การไม่ฉาบเคลือบสารให้นำไฟฟ้า จะได้ผลวิเคราะห์เชิงคุณภาพเชิงปริมาณที่แม่นยำ
ตัวอย่าง ถ้าเราฉาบผ้าเบรคด้วยทอง พีค Au ทองจะเหลื่อม(Overlap)พีคของ S ซัลเฟอร์
ซึ่งผ้าเบรคจะมีส่วนประกอบของซัลเฟอร์ และที่สำคัญมีผ้าเบรคยี่ห้อหนึ่งมีส่วนผสมของ
ทองคำแท้ๆอยู่ด้วย มันจะเป็นผลดีต่อการวิเคราะห์ด้วย กับตัวอย่างที่มีทองมีส่วนประกอบ
โดยที่เราไม่ฉาบทองกับตัวอย่างนั้น

อีกตัวอย่าง ถ้าเราฉาบผ้าเบรคด้วย C คาร์บอน เชิงปริมาณของธาตุนี้จะได้ผลที่ขาดความ
แม่นยำ เพราะส่วนใหญ่ผ้าเบรคจะมีส่วนผสมของ C คาร์บอนอยู่แล้ว



คำถาม ถ้าเราไม่ฉาบผ้าเบรคให้นำไฟฟ้า เราจะสามารถ นำเข้าเครื่อง SEM และวิเคราะห์
ด้วยเครื่อง EDS ได้ไหม คำตอบคือได้และดีด้วยครับ

เรามาดูด้านกายภาพ ของผ้าเบรค ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป SEM
ตามภาพเป็นภาพเป็นภาพแบบ BEI COMPO ข้อดีภาพแบบนี้คือสามารถแยกเพสของ
วัสดุที่นำมาทำผ้าเบรคได้แบบคร่าวๆได้ว่า โดยตัวตัวจับสัญญาณ (BEI Detector) จะ
แยกเฉดสีตามเลขอะตอมมิก (Atomic No.,Z) เฉดสีโทนสว่างคือเลขอะตอมมิกสูงหรือ
เป็นกลุ่มธาตุหนักเช่น Cu ทองแดง เฉดสีโทนมืดคือเลขอะตอมมิกต่ำ หรือเป็นกลุ่ม
ธาตุเบาเช่น C คาร์บอน เป็นต้น


บทความที่เกี่ยวข้อง เรื่องโหมดภาพ SEM/FE-SEM /EPMA : คลิกเพื่อดูบทความ

ตามภาพเป็นภาพผ้าเบรค
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 35เท่า สเกล 500 um (ไมครอน ) หรือ 0.5 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI COMPO
ตัวอย่างผ้าเบรค ไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทอง,คาร์บอน หรืออื่นๆให้นำไฟฟ้า

ถ่ายโดย www.dosem24hr.com



ตามภาพเป็นภาพผ้าเบรค
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 35เท่า สเกล 500 um (ไมครอน ) หรือ 0.5 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI COMPO
ตัวอย่างผ้าเบรค ไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทอง,คาร์บอน หรืออื่นๆให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com



ตามภาพเป็นภาพผ้าเบรค
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 75เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI COMPO
ตัวอย่างผ้าเบรค ไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทอง,คาร์บอน หรืออื่นๆให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com



จากตำแหน่งภาพด้านบนเรามาวิเคราะห์ธาตุกันต่อ แบบพื้นที่ (Area analysis)

หลังจากดูภาพแล้ว เราจะเห็นลักษณะการกระจายตัวของวัสดุที่นำมาทำผ้าเบรค ว่าอยู่ใน
ลักษณะใหนกันบ้าง แต่เราไม่ทราบว่ามีธาตุอะไรกันบ้าง และแต่ละธาตุอยู่ตำแหน่งใดกัน
บ้าง เราจะวิเคราะห์กันต่อครับเพื่อหาคำตอบ ด้วยเครื่องวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ/คุณภาพ

วิเคราะห์ผ้าเบรค Brake Pad Analysis ด้วยเครื่องวิเคราะห์ธาตุ EDS/EDX
วิเคราะห์ผ้าเบรคเชิงคุณภาพ Qualitative Analysis

ตามภาพบนที่กำลังขยาย 75 เท่าเราจะวิเคราะห์ด้านเชิงคุณภาพ ทั้งภาพที่แสดง
ผลการวิเคราะห์เชิงคุณภาพ จะได้ผลเป็นกราฟเชิงคุณภาพเหมือนภาพล่าง

เราจะได้ผลว่ามีธาตุหรือสาร C คาร์บอน,O ออกซิเจน, Si ซิลิกอน,P ฟอสฟอร์รัส,
Ti ไททาเนียม,Cu ทองแดง,Mn แมงกานีส,S ซัลเฟอร์,Mg แมกนีเซียม,Al อลูมิเนียม
,Fe เหล็ก ,Ca แคลเซียม, Ba แบเรียม อยู่บนพื้นที่ที่เราวิเคราะห์ ตามภาพด้านบน

บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก


จากผลการวิเคราะห์เชิงคุณภาพ เราทราบแล้วว่ามีธาตุอะไรบ้าง แต่ยังไม่ทราบว่า
มีปริมาณธาตุใดๆอยู่เท่าไร เราจะมาวิเคราะห์เชิงปริมาณกันต่อ

วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ Qualitative Analysis
การวิเคราะห์เชิงปริมาณ เราจะได้ค่าเป็น Element % หรือเรียกอีกชื่อ Wt% (weight %)
หรืออีกชื่อ Con% (concentration%) และ Atomic% และจะได้ ค่าธาตุ อยู่ในรูปแบบ
คอมพาวด์ออกไซด์Compound % การอ่านผลยกตัวอย่าง จะได้ปริมาณ Al อลูมิเนียม 0.89%
และ Al2O3 1.680%


บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก


 

ลักษณะผลเชิงปริมาณ แสดงเป็นแบบแท่งกราฟ (ผลเดียวกันกับด้านบน)


 
ผลวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ Qualitative Analysis อีกรูปแบบที่ไม่แสดง Compound%
การวิเคราะห์เชิงปริมาณ เราจะได้ค่าเป็น Element % หรือเรียกอีกชื่อ Wt% (weight %)
หรืออีกชื่อ Con% (concentration%) และ Atomic% 

การอ่านผลยกตัวอย่างจะได้ปริมาณCu ทองแดง 3.20 %

 บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก


การวิเคราะห์ดูการกระจายตัว แบบ Speed Mapping (เชิงคุณภาพ)
จากผลการวิเคราะห์เชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ เนื่องจากเราเลือกใช้วิเคราะห์ทั้งภาพ(Area) ไม่ได้เลือกใช้วิธียิงเป็นจุด (Point) ทำให้ผลที่ได้คือผลที่ได้ทั้งหมดที่เราเห็นตามภาพ ถ้า
เราจะใช้วิธีการยิงเป็นจุด เพือจะให้ทราบตำแหน่งธาตุก็ได้ แต่อาจจะต้องยิงหลายจุด จะมีวิธี การหาตำแหน่งของธาตุแบบรวดเร็ว ดูการกระจายตัว เช็คเพสที่เรียกว่า Mapping ตามผล
ด้านล่างเราก็จะทราบ ตำแหน่งแต่ละธาตุว่าอยู่ส่วนใหนของตัวอย่างได้

การอ่านผล ยกตัวอย่างตรงตำแหน่งภาพที่เป็นวงกลม เราพบว่าเป็นตำแหน่ง Si และ Al
ซึ่งจะอยู่ตำแหน่งเดียวกัน

 

บทความที่เกี่ยวข้องและการดูผล : การทำ Mapping แบบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ คลิกค่ะ

*** ภาพแสดงในเว็บขนาด 580x355 ส่วนภาพจริงจะมีขนาด 1024x420



ตามภาพเป็นภาพผ้าเบรค ที่กำลังขยาย 350 เท่า
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 350 เท่า สเกล 50 um (ไมครอน ) หรือ 0.05 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI COMPO +Shadow
ตัวอย่างผ้าเบรค ไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทอง,คาร์บอน หรืออื่นๆให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย
www.dosem24hr.com



ตามภาพล่างเป็นภาพผ้าเบรค ที่กำลังขยาย 350 เท่า แบบกลับเฉดสีดำเป็นขาว ขาวเป็นดำ
เพื่อดูตำหนิบริเวณสีดำก่อนหน้า

ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 350 เท่า สเกล 50 um (ไมครอน ) หรือ 0.05 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI COMPO +Shadow
ตัวอย่างผ้าเบรค ไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทอง,คาร์บอน หรืออื่นๆให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย
www.dosem24hr.com



ตามภาพล่างเป็นภาพผ้าเบรค ที่กำลังขยาย 350 เท่า แบบ TOPO เพื่อดูความสูงต่ำของผิวผ้า
เบรค ดูความสึกหรอของผ้าเบรค

ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 350 เท่า สเกล 50 um (ไมครอน ) หรือ 0.05 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI TOPO
ตัวอย่างผ้าเบรค ไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทอง,คาร์บอน หรืออื่นๆให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย
www.dosem24hr.com




ตามภาพบนที่กำลังขยาย 350 เท่าเราจะวิเคราะห์ด้านเชิงคุณภาพ ทั้งภาพที่แสดง
ผลการวิเคราะห์เชิงคุณภาพ จะได้ผลเป็นกราฟเชิงคุณภาพเหมือนภาพล่าง

เราจะได้ผลว่ามีธาตุหรือสาร C คาร์บอน,O ออกซิเจน, Si ซิลิกอน,P ฟอสฟอร์รัส,
Ti ไททาเนียม,Cu ทองแดง,Mn แมงกานีส,S ซัลเฟอร์,Mg แมกนีเซียม,Al อลูมิเนียม
,Fe เหล็ก ,Ca แคลเซียม, Ba แบเรียม อยู่บนพื้นที่ที่เราวิเคราะห์ ตามภาพด้านบน

บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก


วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ Qualitative Analysis การวิเคราะห์เชิงปริมาณ เราจะได้ค่าเป็น Element % หรือเรียกอีกชื่อ Wt% (weight %)
หรืออีกชื่อ Con% (concentration%) และ Atomic% และจะได้ ค่าธาตุ อยู่ในรูปแบบ
คอมพาวด์ออกไซด์Compound % การอ่านผลยกตัวอย่าง จะได้ปริมาณ Al อลูมิเนียม 1.15%
และ Al2O3 2.180%

บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก
ลักษณะผลเชิงปริมาณ แสดงเป็นแบบแท่งกราฟ (ผลเดียวกันกับด้านบน)





การวิเคราะห์ดูการกระจายตัว แบบ Speed Mapping (เชิงคุณภาพ)

บทความที่เกี่ยวข้องและการดูผล : การทำ Mapping แบบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ คลิกค่ะ

*** ภาพแสดงในเว็บขนาด 580x355 ส่วนภาพจริงจะมีขนาด 1024x420



ตามภาพล่างเป็นภาพผ้าเบรค ที่กำลังขยาย 35 เท่า แบบ
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์) 
กำลังขยาย x 35 เท่า สเกล 500 um (ไมครอน ) หรือ 0.5 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI COMPO
ตัวอย่างผ้าเบรค ไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทอง,คาร์บอน หรืออื่นๆให้นำไฟฟ้า
ถ่ายโดย
www.dosem24hr.com




จากภาพบน เรามาเช็คเฟสวัสดุด้วยวิธี Quant Colour กันตามผลล่าง
ภาพที่ได้จะแยกเพสวัสดุกันค่อนข้างชัดเจน โดยเฉดสีสว่างเป็นธาตุหนัก เช่นขาว ชมพู
แดง ส่วนโทนมืด ดำ น้ำเงิน ฟ้าเป็นธาตุเบา และเขียว เหลืองเป็นค่าอยู่ระหว่างกลาง

ยกตัวอย่าง ตำแหน่งสีชมพูและแดงตามภาพล่างจะเป็นธาตุ Cu ทองแดง




การเช็คเพสวัสดุเชิงคุณภาพแบบ Cameo แสดงระดับพลังงาน 0.1-10 kev.




สรุป การวิเคราะห์ผ้าเบรคแบบไม่ทำลายตัวอย่าง ด้วยวิธีการไม่ฉาบเคลือบสารให้นำไฟฟ้า
เสร็จการวิเคราะห์แบบนี้เรา สามารถนำตัวอย่างนี้ไปวิเคราะห์ด้วยวิธีการอื่นๆต่อได้อีก
หรือแม้แต่นำกลับไปใช้ ไปทดสอบกับรถจริงได้อีก ถ้าเรานำผ้าเบรคใหม่มาทดสอบ
ลักษณะงานวิเคราะห์แบบนี้จะเป็นงาน R&D ส่วนใหญ่ การวิเคราะห์แบบนี้ตัวอย่างผ้า
เบรคจะมีความชื้น
ค่อนข้างสูง แต่ก็มีวิธีการวิเคราะห์ และจะเป็นบทความต่อๆไปครับ
ผลวิเคราะห์จากการที่เราไม่ฉาบเคลือบตัวอย่างจะมีความแม่นยำสูงกว่า แบบฉาบเคลือบ
และการวิเคราะห์แบบนี้ภาพที่ได้จากเครื่อง SEM จะเป็นแบบ BEI COMPO ที่สามารถ
แยกสีเพสวัสดุออกได้ตามค่า Atomic No.,Z จะมองง่ายกว่าการใช้ภาพแบบ SEI ทั่วไป
ที่เราเข้ารับบริการ (กรณีตัวอย่างไม่นำไฟฟ้า)

บทความที่เกี่ยวข้อง เรื่องโหมดภาพ SEM/FE-SEM /EPMA : คลิกเพื่อดูบทความ

***************************************************
สุดท้ายขอขอบคุณ Do SEM ที่เปิดพื้นที่ให้ มากๆครับ ติดตามบทความต่อๆไปนะครับ
น้อมรับทุกคำชี้แนะครับ Mr.Golf (สิงห์เฒ่าซ่อมเซ็ม) manatsanan2007@hotmail.com
หรือมาพบปะพูดคุยได้ตามประสาได้ที่ BigC จ.สุรินทร์ (แอร์ฟรี 555 จริงๆนะครับ) หรือมา
ติดตามเป็นเพื่อนผ่านโซเชียลเน็ตเวิร์ค ตามลิงค์ด้านล่างเลยครับ
http://www.facebook.com/JeolOxfordInstruments?ref=hl 

*********************************************************************
ผ้าเบรค,brake pad,ทดสอบผ้าเบรค,ทดสอบbrake,brake pad analysis,วิเคราะห์ผ้าเบรค


ความรู้ทั่วไปเกี่ยวกับผ้าดิสก์เบรก   ชนิดของผ้าดิสก์เบรก ผ้าดิสก์เบรกที่มีจำหน่ายกันอยู่ในท้องตลาดขณะนี้สามารถแบ่งได้เป็น 2 กลุ่มใหญ่ๆดังนี้
1. กลุ่มผ้าดิสก์เบรกราคาถูกทั่วไปที่มีส่วนผสมของสาร Asbestos หรือที่เรียกกันว่า "ผ้าใบ" จะมีแร่ใยหินเป็นส่วนประกอบ
คุณสมบัติในการเบรก จะใช้ได้ในความเร็วต่ำๆ หรือระยะต้นๆ แต่เมื่อความเร็วสูงขึ้น ประสิทธิภาพในการเบรกจะลดลงอย่าง
รวดเร็ว และที่สำคัญ อายุการใช้งานจะสั้น ผ้าดิสก์เบรกหมดเร็ว นอกจากนั้นแร่ใยหินมีผลต่อสุขภาพ ในปัจจุบัน จึงมีการใช้น้อยลง

2. กลุ่มที่ไม่มีส่วนผสมของสาร Asbestor หรือกลุ่ม Non-organic แบ่งออกเป็น 2ชนิด คือ
2.1 ชนิดที่มีส่วนผสมส่วนใหญ่เป็นโลหะ (Semi-metallic) จะเป็นผ้าดิสก์เบรกของ ผู้ผลิตจากยุโรป หรืออเมริกา เช่น
Bendix Mintex   

2.2 ชนิดที่มีส่วนผสมของสารอนินทรีย์อื่นๆ จะเป็นผ้าดิสก์เบรกของผู้ผลิตจากญี่ปุ่นเช่น Akebono ทั้งสองชนิดนี้จัดเป็น
ผ้าดิสก์เบรกที่เกรดใกล้เคียงกัน

ที่มาและรายละเอียดเพิ่มเติมคลิก :
http://www.thaimazda3.com/forum/index.php?showtopic=15612&mode=threaded
 
บทความน่าสนใจอื่นๆ วิเคราะห์ผ้าเบรค Brake Pad Analysis ด้วยเครื่อง SEM,EDS แบบไม่ทำลายตัวอย่าง คลิก
วิเคราะห์ลายปริ้น แผ่น PCB, Flux และคราบสกปรกบนชิ้นส่วนไฟฟ้าอิเล็กทรอนิกส์ และอุตสาหกรรม คลิก
สาละ สาละลังกา สาละอินเดีย หรือ ลูกปืนใหญ่ (Cannonball,Sal Tree) คลิก

Failure Analysis วิเคราะห์ความเสียหายของวัสดุ ด้วยเครื่อง SEM,EDS  คลิก         
วิเคราะห์ปูนซีเมนต์ Cement ด้วยเครื่อง SEM และ EDS/EDX คลิก
กระดาษ เยื้อกระดาษ วิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และ EDSคลิก
 Detector Cool Down สำหรับเครื่องวิเคราะห์ธาตุ EDS/EDX คลิก
Detector warm up สำหรับ OXFORD EDS คลิก 

EDS ,EDX resolution check มาเช็คสุขภาพเครื่องวิเคราะห์ธาตุ EDS,EDX กัน คลิก
มหัศจรรย์หนอนผีเสื้อ" วงศ์ Tineidae " ผ่านกล้องจุลทรรศน์ คลิก
CAMEO คือเทคนิคการวิเคราะห์เฟสของวัสดุ เชิงคุณภาพด้วยเครื่อง EDS,EDX คลิก
โหมดภาพจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด คลิก
การวิเคราะห์ธาตุ ตามแนวกำหนดเส้นส่องกราดแบบ Linescan คลิก
 การวิเคราะห์การกระจายตัว และหาตำแหน่งของสาร/ธาตุ ด้วยวิธีการ Mapping คลิก
ส้มจิ๊ดถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์ฯ SEM และวิเคราห์ธาตุด้วย EDS,EDX คลิก
วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก
 สะเก็ดแผล ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ คลิก
วิเคราะห์อิฐมวลเบา อิฐเบา อิฐขาว ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM,EDS/EDX คลิก
แป้งเด็ก แป็งเย็น ผงแป้ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS,EDX คลิก
เทคนิคการวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS หรือ EDX, WDX หรือ WDS, และ EPMA แบบใหนดีกว่ากัน คลิก
วิเคราะห์เส้นผม วิเคราะห์เส้นขน คลิก มหัศจรรย์ผึ้งน้อย คลิก
จุลินทรีย์ คือสิ่งสิ่งมีชีวิตที่สายตาเปล่า คนเรามองไม่เห็น คลิก
 การวิเคราะห์เส้นใย สิ่งทอ เส้นไหม เส้นใยสังเคราะห์ fibers คลิก
วิเคราะห์ความเสียหายวัสดุและอุปกรณ์ ในวงการอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ ฮาร์ดดิสก์ ไฟฟ้า คลิก
 แร่ธาตุในข้าวหอมมะลิ คลิก
 
สถานที่ให้และรับบริการ SEM,EDS : ใกล้ฟิวเจอร์รังสิต และดรีมเวิลด์
Do SEM บริการเครื่อง SEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด
 

วันอาทิตย์ที่ 7 กรกฎาคม พ.ศ. 2556

วิเคราะห์ลายปริ้น แผ่น PCB, Flux และคราบสกปรกบนชิ้นส่วนไฟฟ้าอิเล็กทรอนิกส์ ชิ้นส่วนอุตสาหกรรมแบบไม่ทำลายตัวอย่าง

วิเคราะห์ลายปริ้น แผ่น PCB, Flux และคราบสกปรกบนชิ้นส่วนไฟฟ้าอิเล็กทรอนิกส์ชิ้นส่วนอุตสาหกรรม แบบไม่ทำลายตัวอย่างการวิเคราะห์แบบไม่ทำลายตัวอย่าง บทวิเคราะห์นี้หมายถึง การที่เรานำตัวอย่างมาทดสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์จุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปหรือเครื่อง SEM นั้น เราจะไม่นำตัวอย่างไป 
ฉาบเคลือบสารใดๆให้ตัวอย่างนั้นนำไฟฟ้าเลย ไม่ว่าจะฉาบเคลือบด้วยคาร์บอน,ทอง,พาลาเดียม 
หรือไททาเนียม เราสามารถนำตัวอย่างที่วิเคราะห์ด้วยวิธีนี้ ไปทดสอบกับเครื่องมืออื่นๆได้ต่อ 
หรือแม้แต่สามารถนำกลับไปใช้งานได้ ดังเช่นตัวอย่างที่เรานำมาทดสอบกัน กับบทความนี้ 

การทดสอบแบบไม่ทำลายตัวอย่าง สามารถทดสอบวิเคราะห์ วัสดุได้ทุกประเภท จะนำไฟฟ้าได้
นำไฟฟ้าได้บ้าง หรือไม่นำไฟฟ้าเลยก็ได้ เช่นอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ ไฟฟ้า วัสดุยานยนต์ โลหะ 
เซรามิก ปูนซีเมนต์ งานทดสอบความเสียหายของวัสดุ ชีววิทยา พืช สัตว์ และอื่นๆ ทดสอบอะไร
ได้บ้างลองติดต่อห้องปฏิบัติการ SEM/EDSทาง www.dosem24hr.com กันดูนะครับ
 
 
ตัวอย่างที่นำมาทดสอบ และวิเคราะห์คือ RAM ที่ใช้กับ Notebook ดังภาพ ตัวอย่างนี้ 
จะเป็นลักษณะนำไฟฟ้าได้บ้าง เพราะส่วนประกอบที่เป็นแผ่นจะเป็น Epoxy ส่วนหนึ่งที่ไม่นำไฟฟ้าเลย ถ้าจะดูกับเครื่อง SEM ทั่วๆไปจะต้องทำให้นำไฟฟ้าทั้งหมดก่อน โดย 
การนำไปฉาบเคลือบสารให้นำไฟฟ้า แต่เราจะไม่ฉาบสารให้นำไฟฟ้า เพราะหลังการ 
ทดสอบเราจะนำ RAM นี้กลับไปใช้งานต่อได้อีก
 
ตามภาพ RAM ด้านบน เราจะวิเคราะห์บริเวณลายปริ้นที่เสียบเชื่อมต่อกับ Slot ที่เป็นสีทองถ้าดูด้วยตาเปล่าก็จะมองเห็นรอยดำลางๆ เราจะวิเคราะห์จุดนี้ ส่วนการดูลายวงจร รอยบัดกรีให้ดูบทความที่เกี่ยวข้องตามลิงค์ด้านล่าง 

ตามภาพเป็นภาพที่ถ่ายลายปริ้น PCB ที่มีปัญหาพบว่ามีคราบสกปรกติดอยู่บนผิว ถ่ายด้วย 
BEI Dedector ภาพแบบ COMPO ซึ่งสามารถแยกความแตกต่างและเฉดสีวัสดุออกตาม 
Atomic No.(Z) สามารถ
เช็คเพสของวัสดุแบบง่ายๆได้ เช็คการจับตัวของวัสดุ พอบอกคร่าวๆ 
ว่า วัสดุที่มีโทนสีมืดมี Z ต่ำและวัสดุที่มีโทนสีสว่างมี Z สูง (มวลอะตอม Atomic No.หรือ Z)
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์)  
กำลังขยาย x 35เท่า สเกล 500 um (ไมครอน ) หรือ 0.5 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) ภาพแบบ BEI COMPO 
ตัวอย่างลายปริ้น PCBไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทองถ่ายโดย www.dosem24hr.com
 
 

ภาพล่างนี้เป็นภาพเดียวกันกับด้านบน แต่เรากลับโทนสีให้ตรงกันข้าม โดยโทนสีสว่าง
จะปรับเป็นโทนมืด และมืดออกโทนสว่างแทน วัตุประสงค์เพื่อจะได้เห็นตำหนิได้ชัดเจน

 
ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์)  
กำลังขยาย x 35เท่า สเกล 500 um (ไมครอน ) หรือ 0.5 มิลลิเมตร  
ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) 
ภาพแบบ BEI COMPO ตัวอย่างลายปริ้น PCBไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทองถ่ายโดย www.dosem24hr.com
 


ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์)  
กำลังขยาย x 35เท่า สเกล 500 um (ไมครอน ) หรือ 0.5 มิลลิเมตร  
ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ)
ภาพแบบ BEI COMPO ตัวอย่างลายปริ้น PCBไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทองถ่ายโดย www.dosem24hr.com


ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์)  
กำลังขยาย x 100 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน ) หรือ 0.1 มิลลิเมตร  
ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) 
ภาพแบบ BEI COMPO ตัวอย่างลายปริ้น PCBไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทองถ่ายโดย www.dosem24hr.comเราเพิ่มกำลังขยายขึ้นเป็น 100 เท่าเพื่อดูตำหนิให้ชัดขึ้น พร้อมทั้งใช้โปรแกรม 
SemAfore วัดขนาดความกว้างลายปริ้นได้ประมาณ 470 um และระหว่าง Gap 
วัดได้ประมาณ 200 um(ไมโครเมตร)



ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM ที่ 20kv (กิโลโวลท์)  
กำลังขยาย x 350 เท่า สเกล 50 um (ไมครอน ) หรือ 0.05 มิลลิเมตร
ถ่ายในโหมด Low vacuum (ความเป็นสูญญากาศต่ำ) 
ภาพแบบ BEI COMPO ตัวอย่างลายปริ้น PCBไม่ได้ฉาบเคลือบด้วยทองถ่ายโดย www.dosem24hr.com
เราเพิ่มกำลังขยายขึ้นเป็น 350เท่า เพื่อจะให้เห็นเฉพาะลายปริ้น และคราบสกปรก 
ที่เป็นตำหนิ และตำแหน่งนี้เอง เราจะทำการวิเคราะห์ธาตุด้วยเครื่อง EDS/EDX กัน
และจะสังเกตุได้ว่าจะมีรอยขูดขีดบนลายปริ้น PCB เป็นรอยที่เราเสียบเข้าออกกับ Slot
นั้นเอง จะเป็นรอยยาวเส้นตรงแนวตั้ง ตามภาพด้านซ้ายของตำหนิ



จากตำแหน่งภาพด้านบนเรามาวิเคราะห์ธาตุกันต่อ แบบพื้นที่ (Area analysis)

วิเคราะห์ธาตุเชิงคุณภาพ Qualitative Analysis ผลวิเคราะห์เชิงคุณภาพ
เราจะได้ผลว่ามีธาตุหรือสาร C คาร์บอน,O ออกซิเจน Br โบรมีน, Si ซิลิกอน, 
Ni นิเกิล,Cu ทองแดง,Au ทอง อยู่บนพื้นที่ที่เราวิเคราะห์ ตามภาพด้านบน 
บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก

กราฟสเป็กตรัมอีกแบบ ซึ่งผลเหมือนด้านบน ต่างกันแค่การแสดงสีพื้น



จากผลการวิเคราะห์เชิงคุณภาพ เราทราบแล้วว่ามีธาตุอะไรบ้าง แต่ยังไม่ทราบว่า 
มีปริมาณธาตุใดๆอยู่เท่าไร เราจะมาวิเคราะห์เชิงปริมาณกันต่อ
วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ Qualitative Analysis การวิเคราะห์เชิงปริมาณ เราจะได้ค่าเป็น Element % หรือเรียกอีกชื่อ Wt%
(weight %)หรืออีกชื่อ Con% (concentration%) และ Atomic% และจะได้
ค่าธาตุ อยู่ในรูปแบบคอมพาวด์ออกไซด์Compound % การอ่านผลยกตัวอย่าง
จะได้ปริมาณ Au ทอง 49.74% และ Au2O3 55.80%

บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก

การแสดงผลเชิงปริมาณในรูปแบบกราฟแท่ง



การวิเคราะห์ดูการกระจายตัว แบบ Speed Mapping (เชิงคุณภาพ) 
จากผลการวิเคราะห์เชิงคุณภาพและเชิงปริมาณ เนื่องจากเราเลือกใช้วิเคราะห์ทั้งภาพ(Area)ไม่ได้เลือกใช้วิธียิงเป็นจุด (Point) ทำให้ผลที่ได้คือผลที่ได้ทั้งหมดที่เราเห็นตามภาพ ถ้า 
เราจะใช้วิธีการยิงเป็นจุด เพือจะให้ทราบตำแหน่งธาตุก็ได้ แต่อาจจะต้องยิงหลายจุด จะมีวิธีการหาตำแหน่งของธาตุแบบรวดเร็ว ดูการกระจายตัว เช็คเพสที่เรียกว่า Mapping ตามผลด้านล่างเราก็จะทราบ ตำแหน่งแต่ละธาตุว่าอยู่ส่วนใหนของตัวอย่างได้

การอ่านผลยกตัวอย่างตรงรอยตำหนิ เราพบว่าเป็นตำแหน่ง C, O และ Ni และตำแหน่ง
นี้จะไม่มี Au และ Br แสดงคราบนี้ทำให้ Au หลุดออกไปจนเห็นชั้นที่อยู่ต่ำลงไปคือ Ni 
หรือบอกได้ว่า Au อยู่บริเวณผิวบนสุด และ Br ,Cu
บทความที่เกี่ยวข้องและการดูผล : 
การทำ Mapping แบบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ คลิกค่ะ
 


ตามภาพล่าง เราลดกำลังขยายลง เพื่อต้องการวิเคราะห์ธาตุตามพื้นที่ที่กว้าง ขึ้น 
โดยจะให้วิเคราะห์บริเวณ Gap ด้วย



วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ Qualitative Analysis กับพื้นที่ที่กว้างขึ้น 
การวิเคราะห์เชิงปริมาณ เราจะได้ค่าเป็น Element % หรือเรียกอีกชื่อ Wt% (weight %)
หรืออีกชื่อ Con% (concentration%) และ Atomic%  การอ่านผลยกตัวอย่างจะได้ปริมาณ
Au ทอง 73.68% ที่มากขึ้น 
บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก 


การแสดงผลเชิงปริมาณในรูปแบบกราฟแท่ง 



การวิเคราะห์ดูการกระจายตัว แบบ Speed Mapping (เชิงคุณภาพ) 
การอ่านผลยกตัวอย่างตรงรอย Gap พบว่าเป็นตำแหน่ง C, O และ Br ที่ค่อนข้างเยอะ 
บริเวณลายปริ้นจะเป็นตำแหน่ง Au,Ni และ Cu
บทความที่เกี่ยวข้องและการดูผล : 
การทำ Mapping แบบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ คลิกค่ะ



การวิเคราะห์ดูการกระจายตัวตามเส้นแนว แบบ Speed Line Scan (เชิงคุณภาพ)
เราสามารถกำหนดเส้นบนตำแหน่งที่เราสนใจต้องการ ทราบว่ามีอะไรณ.ตำแหน่งที่เรา 
ลากเส้นผ่านได้ ตามภาพล่างเส้นสีเหลืองคือเส้นที่เรากำหนดที่เราจะทำ Line Scan 
ซ้ายสุดคือจุดเริ่ม



ผลวิเคราะห์ตามเส้นลากผ่าน ผลตามภาพด้านล่าง ตามภาพล่างแนวแกน X 
คือระยะตามที่เรากำหนดเส้นสแกน ส่วนแกน Y เป็นค่า Cts. (Count per Sec.)

บทความที่เกี่ยวข้องและการดูผล :การทำ Line Scan แบบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ คลิกค่ะ

การรวมผล Speed Line Scan เข้ากับภาพ ตามภาพเป็นการรวมภาพ,Au และ Br เข้าด้วยกัน



การวิเคราะห์ดูการกระจายตัวตามเส้นแนว แบบ Quant Line Scan (เชิงปริมาณ) 
เราสามารถกำหนดเส้นบนตำแหน่งที่เราสนใจต้องการ ทราบว่ามีอะไรณ.ตำแหน่งที่เรา 
ลากเส้นผ่านได้ ตามภาพล่างเส้นสีเหลืองคือเส้นที่เรากำหนดที่เราจะทำ Line Scan 
ซ้ายสุดคือจุดเริ่ม



ผลวิเคราะห์ตามเส้นลากผ่าน ผลตามภาพด้านล่าง ตามภาพล่างแนวแกน X 
คือระยะตามที่เรากำหนดเส้นสแกน ส่วนแกน Y เป็นค่า Element% 

บทความที่เกี่ยวข้องและการดูผล : 
การทำ Line Scan แบบเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ คลิกค่ะ



การรวมผล Quant Line Scan เข้ากับภาพ ตามภาพเป็นการรวมภาพ,Au และ Br 
เข้าด้วยกันและแกน Y บอกค่า Element% 0-80% ตามปริมาณที่มีมากสุด



ตามภาพเราเปลี่ยนจุดการวิเคราะห์ บริเวณที่มีคราบสกปรกอีกจุดบนแผ่น PCB


จากตำแหน่งภาพด้านบนเรามาวิเคราะห์ธาตุกันต่อ แบบพื้นที่ (Area analysis)

วิเคราะห์ธาตุเชิงคุณภาพ Qualitative Analysisผลวิเคราะห์เชิงคุณภาพ
เราจะได้ผลว่ามีธาตุหรือสาร C คาร์บอน,O ออกซิเจน Br 
โบรมีน, Si ซิลิกอน, Fe เหล็ก,Cu ทองแดง, Pb ตะกั่ว,Sn ดีบุก,As สารหนู Cd 
แคดเมียม,Zn สังกสี,Cl ครอรีน อยู่บนพื้นที่ที่เราวิเคราะห์ตามภาพด้านบน

บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก 

 
กราฟสเป็กตรัมอีกแบบ ซึ่งผลเหมิอนด้านบน ต่างกันแค่การแสดงสีพื้น (ภาพล่าง)



วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ Qualitative Analysis 
การวิเคราะห์เชิงปริมาณ
เราจะได้ค่าเป็น Element % หรือเรียกอีกชื่อ Wt% 
(weight %)หรืออีกชื่อ Con% (concentration%) และ Atomic%  
การอ่านผลยกตัวอย่างจะได้ปริมาณ Cd แคดเมียม 0.12 % 


บทความที่เกี่ยวข้อง : วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก
 
สรุป ข้อดีการวิเคราะห์แบบไม่ทำลายตัวอย่าง โดยการไม่ฉาบเคลือบทอง,คาร์บอน 
หรืออื่นๆ จะทำให้ผลการวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณมีความแม่นยำ เพราะถ้าเรา 
ฉาบเคลือบคาร์บอนก็จะทำให้ %คาร์บอน C มีความเที่ยงตรงจะลดลง ตรงกัน 
ข้ามถ้าเราฉาบเคลือบด้วยทอง การวิเคราะห์ธาตุเบา เช่น C,O,N อื่นๆก็จะมีความ
เที่ยงตรงลดลงเช่นกัน ไม่เฉพาะฉาบทองเท่านั้นที่จะทำให้ % ธาตุเบาขาดความ
แม่นยำ ยังมีการฉาบเคลือบด้วยพาราเดียม แพทตินัม หรือไททาเนียมเป็นต้น 
อีกปัญหาหนึ่งคือการเกิดการพีคเหลื่อม Overlap กัน เช่นการฉาบเคลือบทอง 
จะทำให้ ตัวอย่างที่เราวิเคราะห์ถ้ามี Sซัลเฟอร์ จะทำให้ปริมาณ S ขาดความแม่น 
ยำ เพราะพีค S อยู่ติดและเหลื่อมกันกับ Au ถึงแม้ว่าจะมีโปรแกรมการชดเชยบอก
ให้โปรแกรมทราบว่าเราฉาบเคลือบตัวอย่างด้วยสารใดๆ ก่อนประมวลผลก็ตามที
ก็ยังจะมีความคลาดเคลื่อนของผลอยู่บ้าง แต่ก็ยังดีกว่าไม่ชดเชย(compensate) 
ดีที่สุดก็คือการไม่ฉาบเคลือบ 
ข้อดี อีกข้อภาพที่ถ่ายเราถ่ายเป็นภาพ BEI COMPO มันสามารถแยกความแตก 
ต่างสารของตัวอย่าง ตามเฉดสีตามมวลอะตอม (Atomic No.,Z) 
ข้อเสีย ภาพ BEI COMPO ที่ได้แบบนี้จะมีความคมชัดน้อยกว่าภาพ SEI 

***************************************************
สุดท้ายขอขอบคุณ Do SEM ที่เปิดพื้นที่ให้ มากๆครับ
น้อมรับทุกคำชี้แนะครับ Mr.Golf (สิงห์เฒ่าซ่อมเซ็ม) manatsanan2007@hotmail.com 
หรือมาพบปะพูดคุยได้ตามประสาได้ที่ BigC จ.สุรินทร์ (แอร์ฟรี 555 จริงๆนะครับ) 
หรือมา 
ติดตามเป็นเพื่อนผ่านโซเชียลเน็ตเวิร์ค ตามลิงค์ด้านล่างเลยครับ http://www.facebook.com/JeolOxfordInstruments?ref=hl  

********************************************************************* 
PCB,แผ่นPCB,แผ่นปริ้น,วิเคราะห์PCB,วิเคราะห์แผ่นปริ้น,ทดสอบPCB,ทดสอบวัสดุไฟฟ้า, 
ทดสอบวัสดุอิเล็กฯ,Contamination,วิเคราะห์คราบสกปรก
 
บทความน่าสนใจอื่นๆ

วิเคราะห์ลายปริ้น แผ่น PCB, Flux และคราบสกปรกบนชิ้นส่วนไฟฟ้าอิเล็กทรอนิกส์ และอุตสาหกรรม คลิก
สาละ สาละลังกา สาละอินเดีย หรือ ลูกปืนใหญ่ (Cannonball,Sal Tree) คลิก

Failure Analysis วิเคราะห์ความเสียหายของวัสดุ ด้วยเครื่อง SEM,EDS  คลิก         
วิเคราะห์ปูนซีเมนต์ Cement ด้วยเครื่อง SEM และ EDS/EDX คลิก 
กระดาษ เยื้อกระดาษ วิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และ EDSคลิก
 Detector Cool Down สำหรับเครื่องวิเคราะห์ธาตุ EDS/EDX คลิก 
Detector warm up สำหรับ OXFORD EDS คลิก 
 EDS ,EDX resolution check มาเช็คสุขภาพเครื่องวิเคราะห์ธาตุ EDS,EDX กัน คลิก
 มหัศจรรย์หนอนผีเสื้อ" วงศ์ Tineidae " ผ่านกล้องจุลทรรศน์ คลิก 
CAMEO คือเทคนิคการวิเคราะห์เฟสของวัสดุ เชิงคุณภาพด้วยเครื่อง EDS,EDX คลิก 
โหมดภาพจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด คลิก
 การวิเคราะห์ธาตุ ตามแนวกำหนดเส้นส่องกราดแบบ Linescan คลิก
 การวิเคราะห์การกระจายตัว และหาตำแหน่งของสาร/ธาตุ ด้วยวิธีการ Mapping คลิก 
ส้มจิ๊ดถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์ฯ SEM และวิเคราห์ธาตุด้วย EDS,EDX คลิก 
วิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณ เชิงคุณภาพด้วย EDS,EDX คลิก
 สะเก็ดแผล ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ คลิก 
วิเคราะห์อิฐมวลเบา อิฐเบา อิฐขาว ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM,EDS/EDX คลิก
 แป้งเด็ก แป็งเย็น ผงแป้ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS,EDX คลิก 
เทคนิคการวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS หรือ EDX, WDX หรือ WDS, และ EPMA แบบใหนดีกว่ากัน คลิก
 วิเคราะห์เส้นผม วิเคราะห์เส้นขน คลิก 
มหัศจรรย์ผึ้งน้อย คลิก 

จุลินทรีย์ คือสิ่งสิ่งมีชีวิตที่สายตาเปล่า คนเรามองไม่เห็น คลิก 
การวิเคราะห์เส้นใย สิ่งทอ เส้นไหม เส้นใยสังเคราะห์ fibers คลิก 
วิเคราะห์ความเสียหายวัสดุและอุปกรณ์ ในวงการอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ ฮาร์ดดิสก์ ไฟฟ้า คลิก
แร่ธาตุในข้าวหอมมะลิ คลิก
 
สถานที่ให้และรับบริการ SEM,EDS : ใกล้ฟิวเจอร์รังสิต และดรีมเวิลด์
Do SEM บริการเครื่อง SEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด