วันอังคารที่ 27 พฤศจิกายน พ.ศ. 2555

จุลินทรีย์, ยีสต์, รา, สาหร่ายเซลล์เดียว, อาร์เคีย, เชื้อรา, แบคทีเรีย, ไวรัส

จุลินทรีย์ ตาเปล่ามองไม่เห็น

จุลินทรีย์ คือสิ่งมีชีวิตที่สายตาเปล่า คนเรามองไม่เห็น

จุลินทรีย์ หรือ จุลชีวัน หรือ จุลชีพ (อังกฤษ: Microorganism) เป็นสิ่งมีชีวิตขนาดเล็ก ที่ไม่สามารถมองเห็นได้ด้วยตาเปล่าจึงจำเป็นต้องใช้กล้องจุลทรรศน์ ได้แก่ แบคทีเรีย อาร์เคีย รา และ ยีสต์ เป็นต้น เราสามารถพบจุลินทรีย์ได้ทุกสภาวะแวดล้อม แม้แต่ในสภาวะแวดล้อมที่สิ่งมีชีวิตอื่นอยู่ไม่ได้ แต่จุลินทรีย์บางชนิดสามารถปรับตัวอาศัยอยู่ได้ เช่น ในน้ำพุร้อนบริเวณภูเขาไฟใต้ทะเลลึก หรือภูเขาไฟธรรมดา ใต้มหาสมุทรที่มีความกดดันของน้ำสูงๆ ในน้ำแข็งที่มีอุณหภูมิเย็นจัด บริเวณที่มีสภาพความเป็นกรดด่างสูง หรือแม้กระทั่งในบริเวณที่ไม่มีออกซิเจนส่วนใหญ่หมายถึงสิ่งมีชีวิตเซลล์เดียว หรือหลายๆเซลล์ โดยแต่ละเซลล์เป็นอิสระจากกัน
ภาพเป็นเชื้อจุลินทรีย์ชนิดหนึ่ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)กำลังขยาย x 5000 เท่า สเกล 5 um (ไมครอน) หรือ 0.005 มิลลิเมตร เมื่อเอาสกลเทียบขนาดเชื้อแล้ว จะมีขนาด  0.005-0.008 มิลลิเมตรเท่านั้นเอง ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพ SEI และฉาบเคลือบทองคำ 99.99%
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com
ภาพเป็นเชื้อจุลินทรีย์ชนิดหนึ่ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)กำลังขยาย x 200 เท่า สเกล 100 um (ไมครอน) หรือ 0.1 มิลลิเมตร เมื่อเอาสกลเทียบขนาดเชื้อแล้ว จะมีขนาด  0.005-0.008 มิลลิเมตรเท่านั้นเอง ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพ SEI และฉาบเคลือบทองคำ 99.99%
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com
ภาพเป็นเชื้อจุลินทรีย์ชนิดหนึ่ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)กำลังขยาย x 750 เท่า สเกล 10 um (ไมครอน) หรือ 0.01 มิลลิเมตร เมื่อเอาสกลเทียบขนาดเชื้อแล้ว จะมีขนาด  0.005-0.008 มิลลิเมตรเท่านั้นเอง ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพ SEI และฉาบเคลือบทองคำ 99.99%
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com
ภาพเป็นเชื้อจุลินทรีย์ชนิดหนึ่ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SEM ที่ 15kv (กิโลโวลท์)กำลังขยาย x 3500 เท่า สเกล 5 um (ไมครอน) หรือ 0.005 มิลลิเมตร เมื่อเอาสกลเทียบขนาดเชื้อแล้ว จะมีขนาด  0.005-0.008 มิลลิเมตรเท่านั้นเอง ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพ SEI และฉาบเคลือบทองคำ 99.99%
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com
 
จุลินทรีย์เมื่อแบ่ง ออกเป็นกลุ่มตามขนาด รูปร่าง และคุณสมบัติอื่นๆ ได้ดังนี้
1. เชื้อไวรัส
เป็นจุลินทรีย์ที่ขนาดเล็กที่สุดต้องใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีกำลังขยายเป็นหมื่นเท่าจึงจะมองเห็นได้ เรายังไม่สามารถเพาะเลี้ยงเชื้อไวรัสได้ในอาหารเพาะเลี้ยง เชื้อไวรัสเจริญเพิ่มจำนวนได้เมื่ออยู่ในเซลล์ของสิ่งมีชีวิตเท่านั้น ตัวอย่างโรคที่เกิดจากเชื้อไวรัส ได้แก่ ไข้ทรพิษ พิษสุนัขบ้าไขสันหลังอักเสบหรือโปลิโอ หัด คางทูม และอีสุกอีใส เป็นต้น
2. เชื้อแบคคีเรีย (bacteria)
มีขนาดใหญ่กว่าเชื้อไวรัส สามารถมองเห็นได้เมื่อส่องขยายด้วยกล้องจุลทรรศน์ธรรมดา ส่วนมากทำหน้าที่เป็นผู้ย่อยลสลายในธรรมชาติ แต่อาจมีบางชนิดที่สามารถสังเคราะห์แสงได้
ภาพเป็นเชื้อจุลินทรีย์ชนิดหนึ่ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SEM ที่ 10 kv (กิโลโวลท์)กำลังขยาย x 2000 เท่า สเกล 10 um (ไมครอน) หรือ 0.01 มิลลิเมตร เมื่อเอาสกลเทียบขนาดเชื้อแล้ว จะมีขนาด  0.005-0.008 มิลลิเมตรเท่านั้นเอง ถ่ายในโหมด High vacuum ภาพ SEI และไม่ได้ฉาบเคลือบทองคำ 99.99% ถ่ายรูป
ออกมาทำให้เกิด Charging up
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com
ภาพเป็นเชื้อจุลินทรีย์ชนิดหนึ่ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด SEM ที่ 10kv (กิโลโวลท์)กำลังขยาย x 500เท่า สเกล 50 um (ไมครอน) หรือ 0.05 มิลลิเมตร เมื่อเอาสกลเทียบขนาดเชื้อแล้ว จะมีขนาด  0.005-0.008 มิลลิเมตรเท่านั้นเอง ถ่ายในโหมด Low vacuum ภาพ BEI COMPO
ถ่ายโดย www.dosem24hr.com
 
3. เชื้อรา (fungus)
มีขนาดใหญ่กว่าเชื้อบัคเตรี พบว่ามีรูปร่าง 2 แบบ คือ ราแบบรูปกลม เรียกว่า ยีสต์ และราแบบเป็นสาย เรียกว่า สายรา ราบางชนิดจะมีรูปร่างได้ทั้ง 2 แบบ ขึ้นอยู่กับสิ่งแวดล้อมในธรรมชาติ เราอาจมองเห็นกลุ่มของเชื้อราได้ด้วยตาเปล่า ราบางชนิดจะสร้างสปอร์สำหรับสืบพันธุ์เกิดเป็นเห็ดขึ้น
4. สาหร่ายเซลล์เดียว (blue green algae)
เป็นจุลินทรีย์ที่สามารถสังเคราะห์แสงเองได้ เพราะมีรงค์วัตถุเพื่อการสังเคราะห์แสงอยู่ในเซลล์ จัดเป็นผู้ผลิตเริ่มต้นของห่วงโซ่อาหาร
 
 
บทความน่าสนใจอื่นๆ




สะเก็ดแผล ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ คลิก
วิเคราะห์อิฐมวลเบา อิฐเบา อิฐขาว ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM,EDS/EDX คลิก 

แป้งเด็ก แป็งเย็น ผงแป้ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS,EDX คลิก 
เทคนิคการวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS หรือ EDX, WDX หรือ WDS, และ EPMA แบบใหนดีกว่ากัน คลิก 
 วิเคราะห์เส้นผม วิเคราะห์เส้นขน คลิก
มหัศจรรย์ผึ้งน้อย คลิก
จุลินทรีย์ คือสิ่งสิ่งมีชีวิตที่สายตาเปล่า คนเรามองไม่เห็น คลิก
การวิเคราะห์เส้นใย สิ่งทอ เส้นไหม เส้นใยสังเคราะห์ fibers คลิก
การวิเคราะห์ความเสียหายวัสดุและอุปกรณ์ ในวงการอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ ฮาร์ดดิสก์ ไฟฟ้า คลิก
แร่ธาตุในข้าวหอมมะลิ คลิก
ผงชูรส และผงปรุงรส คลิก

วิเคราะห์สิว ด้วยกล้องจุลทรรศน์ คลิก
ความมหัศจรรย์ของหนวดหรือเคราฤาษี คลิก
ปากดีของมดดำ คลิก

ผมมันชั่ว ผมมันเลว คลิก
ฟองน้ำ ฟองน้ำ คลิก

เชื่อหรือไม่ว่าคือขนมปัง คลิก
แกงไก่หน่อไม้ดอง
คลิก
มาจุดธูปขอหวยกัน คลิก
พระเครื่องเก่าแก่ คลิก
บ้านและสวนสวย คลิก

 
ที่มา : http://www.dosem24hr.com/index.php

สถานที่ให้และรับบริการ SEM,EDS : ใกล้ฟิวเจอร์รังสิต และดรีมเวิลด์

Do SEM บริการเครื่อง SEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด
 

วันพุธที่ 21 พฤศจิกายน พ.ศ. 2555

วิเคราะห์เส้นใย สิ่งทอ เส้นไหม เส้นใยสังเคราะห์ fibers

เส้นใย สิ่งทอ เส้นไหม เส้นใยสังเคราะห์ fibers

เราแบ่งเส้นใยเป็น 2 ประเภทใหญ่ๆ

เส้นใยจากธรรมชาติ (Natural fibers) เส้นใยจากพืช เช่น ฝ้าย ปอ ป่าน นุ่น ลินิน รามี เส้นใยสัตว์ เช่น ไหม (silk) ผม (hair) ขนสัตว์ (wool) จากแร่ เช่น แร่ใยหิน (asbestos)

เส้นใยจากการประดิษฐ์ (Man-made fibers) ประดิษฐ์จากธรรมชาติ เช่น เรยอน อะซิเทต ไตรอะซีเทต เส้นใยสังเคราะห์ เช่น โพลีเอสเทอร์ ไนลอน โอเลฟินส์ โพลีอรามิด จากแร่และเหล็ก เช่น เซรามิก กราไฟต์ โลหะ แก้ว

แต่บทความนี้เราจะมาดูเส้นใย ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM เพื่อดูลักษณะเส้นใย ขนาดเส้นใย ลักษณะการทอ ฯลฯ




ลักษณะเส้นใยที่เรานำมาเป็นตัวอย่างในการถ่ายภาพ ตามภาพ จะมีผ้าที่ทอแล้ว เรานำมาเป็นตัวอย่างสองแบบ
แบบแรกตามภาพบน เป็นผ้าพันคอ ที่ลักษณะการทอค่อนข้างห่าง และตามภาพเดียวกันด้านล่าง เป็นผ้าแพร ที่ทอเสร็จแล้ว




ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 15kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 50 เท่า สเกล 500 ไมครอน หรือ 0.5 mm. (มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO (เป็นผ้าพันคอ)




ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 15kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 200 เท่า สเกล 100 ไมครอน หรือ 0.1 mm. (มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO (เป็นผ้าพันคอ) วัดขนาดความกว้างใย ออกมาแล้ว 10-12 ไมครอน
หรือ 0.010 -0.012 มิลลิเมตร




ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 10kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 50 เท่า สเกล 500 ไมครอน หรือ 0.5 mm. (มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI (เป็นผ้าพันคอ)





ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 10kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 200 เท่า สเกล 100 ไมครอน หรือ 0.1 mm. (มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI (เป็นผ้าพันคอ) วัดขนาดความกว้างใย ออกมาแล้ว 10-12 ไมครอน
หรือ 0.010 -0.012 มิลลิเมตร




ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 15kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 50 เท่า สเกล 500 ไมครอน หรือ 0.5 mm. (มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO (เป็นผ้าแพร)




ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 15kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 200 เท่า สเกล 100 ไมครอน หรือ 0.1 mm. (มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO (เป็นผ้าแพร) วัดขนาดความกว้างใย ออกมาแล้ว 12-14ไมครอน
หรือ 0.012 -0.014 มิลลิเมตร




ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 10kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 50 เท่า สเกล 500 ไมครอน หรือ 0.5 mm. (มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI (เป็นผ้าแพร)
ภาพนี้ฉาบเคลือบทอง ด้วยเวลา 40 วินาที ทำให้เคลือบได้บาง เวลาถ่ายทำให้ Charging up แนะนำต้องฉาบ 150-180 วินาที






ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 10kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 200 เท่า สเกล 100 ไมครอน หรือ 0.1 mm. (มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI (เป็นผ้าแพร วัดขนาดความกว้างใย ออกมาแล้ว 12-14 ไมครอน
หรือ 0.012 -0.014 มิลลิเมตร

ภาพนี้ฉาบเคลือบทอง ด้วยเวลา 40 วินาที ทำให้เคลือบได้บาง เวลาถ่ายทำให้ Charging up แนะนำต้องฉาบ 150-180 วินาที




มาดูอีหนึ่งตัวอย่างกัน ตามภาพเรานำเส้นใยไหมมาศึกษา แล้วนำเข้าไปฉาบเคลือบทอง ให้นำไฟฟ้าก่อน





ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 10kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 100 เท่า สเกล 100 ไมครอน หรือ 0.1 mm. (มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI วัดขนาดความกว้างใย ออกมาแล้ว 16-22 ไมครอนหรือ 0.016 -0.022 มิลลิเมตร





ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 10kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 500เท่า สเกล 50 ไมครอน หรือ 0.05 mm. (มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI วัดขนาดความกว้างใย ออกมาแล้ว 16-22 ไมครอน หรือ 0.016 -0.022 มิลลิเมตร





ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 10kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 1000เท่า สเกล 10 ไมครอน หรือ 0.01 mm. (มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI วัดขนาดความกว้างใย ออกมาแล้ว 16-22 ไมครอนหรือ 0.016 -0.022 มิลลิเมตร





ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 10kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 100 เท่า สเกล 100 ไมครอน หรือ 0.1 mm. (มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI วัดขนาดความกว้างใย ออกมาแล้ว 16-22 ไมครอนหรือ 0.016 -0.022 มิลลิเมตร





ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 10kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 500เท่า สเกล 50 ไมครอน หรือ 0.05 mm. (มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI วัดขนาดความกว้างใย ออกมาแล้ว 16-22 ไมครอนหรือ 0.016 -0.022 มิลลิเมตร




ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 10kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 1000เท่า สเกล 10 ไมครอน หรือ 0.01 mm. (มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI วัดขนาดความกว้างใย ออกมาแล้ว 16-22 ไมครอนหรือ 0.016 -0.022 มิลลิเมตร




โรงงานอุตสาหกรรมสิ่งทอขนาดกลาง ถึงใหญ่ ส่วนใหญ่ต้องมีการควบคุมการผลิต ให้ได้เป็นมาตรฐานตลอด เพราะบางที
นอกจากจะมีปัญหาเรื่องวัตถุดิบของเส้นใยแล้ว จะมีปัญหาเรื่องเครื่องจักรที่ใช้ทำเส้นใย และทอ ทำให้หลายโรงงานต้องใช้
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดเป็นเครื่องทดสอบด้านมาตรฐาน คุณภาพ QC และR&D ค่ะ

บทความน่าสนใจอื่นๆ
สะเก็ดแผล ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ คลิก
วิเคราะห์อิฐมวลเบา อิฐเบา อิฐขาว ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM,EDS/EDX คลิก 

แป้งเด็ก แป็งเย็น ผงแป้ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS,EDX คลิก 
 เทคนิคการวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS หรือ EDX, WDX หรือ WDS, และ EPMA แบบใหนดีกว่ากัน คลิก 
วิเคราะห์เส้นผม วิเคราะห์เส้นขน คลิก
 มหัศจรรย์ผึ้งน้อย คลิก
จุลินทรีย์ คือสิ่งสิ่งมีชีวิตที่สายตาเปล่า คนเรามองไม่เห็น คลิก
การวิเคราะห์เส้นใย สิ่งทอ เส้นไหม เส้นใยสังเคราะห์ fibers คลิก
การวิเคราะห์ความเสียหายวัสดุและอุปกรณ์ ในวงการอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ ฮาร์ดดิสก์ ไฟฟ้า คลิก
แร่ธาตุในข้าวหอมมะลิ คลิก
ผงชูรส และผงปรุงรส คลิก

วิเคราะห์สิว ด้วยกล้องจุลทรรศน์ คลิก
ความมหัศจรรย์ของหนวดหรือเคราฤาษี คลิก
ปากดีของมดดำ คลิก

ผมมันชั่ว ผมมันเลว คลิก
ฟองน้ำ ฟองน้ำ คลิก

เชื่อหรือไม่ว่าคือขนมปัง คลิก
แกงไก่หน่อไม้ดอง
คลิก
มาจุดธูปขอหวยกัน คลิก
พระเครื่องเก่าแก่ คลิก
บ้านและสวนสวย คลิก
 
ที่มา : http://www.dosem24hr.com/index.php

สถานที่ให้และรับบริการ SEM,EDS : ใกล้ฟิวเจอร์รังสิต และดรีมเวิลด์

Do SEM บริการเครื่อง SEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด

เส้นใย,สิ่งทอ,เส้นไหม,เส้นใยสังเคราะห์ ,fibers,วิเคราะห์เส้นใย,วัดขนาดเส้นใย,ถ่ายภาพเส้นใยด้วยSEM,วิเคราะห์ใยสังเคราะห์,วิเคราะห์สิ่งทอ,การย้อมไหม,การย้อมเส้นใย,ควบคุมคุณภาพสิ่งทอ,ควบคุมคุณภาพเส้นใย

วันจันทร์ที่ 12 พฤศจิกายน พ.ศ. 2555

การวิเคราะห์ความเสียหายวัสดุและอุปกรณ์ ในวงการอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ ฮาร์ดดิสก์ ไฟฟ้า และคอมพิวเตอร์

การวิเคราะห์ความเสียหายวัสดุและอุปกรณ์ ในวงการอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ ฮาร์ดดิสก์ ไฟฟ้า และคอมพิวเตอร์
ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM และเครื่องวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ EDS,EDX เช่นการวิเคราะห์ไอซี IC ,PCB ลายวงจร ลายปริ้น,TR ทรานซิสเตอร์ ,เซมิคอนดักเตอร์,ฮาร์ดดิสก์ และอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์และไฟฟ้าต่างๆ
ทำไมต้อง ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM และเครื่องวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ EDS,EDX
เนื่องจากปัจจุบันเป็นยุคนาโนเทคโนโลยี อุปกรณ์ที่เกี่ยวข้องกับอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ต่างๆมีขนาดเล็กลง และเล็กลงเรื่อยๆ ดูได้จากทีวี มือถือ วิทยุ เครื่องเสียง ฮาร์ดดิสก์ คอมพิวเตอร์ จะมีขนาดเล็กและเบาขึ้น สาเหตุที่เล็กลงเรื่อยเป็นเพราะผู้ผลิต มีการพัฒนาเครื่องจักรหรือเครื่องผลิต ผลิตอุปกรณ์ที่เป็นชิพ Chip ให้มีขนาดเล็กลงในระดับนาโน และกำลังพัฒนาเป็นพิโคเทคโนโลยีซึ่งจะเล็กมากกว่า นาโนเทคโนโลยีมากๆ การที่ผู้ผลิตสามารถผลิตอุปกรณ์ ให้ขนาดเล็กลงได้นั้น หมายถึงเขาก็จะใช้วัตถุดิบลดลง หรือใช้เท่าเดิมแต่ผลิตได้เยอะกว่าเดิม 2-10 เท่าตัวได้เลยค่ะ
จากเดิมใช้แค่กล้องจุลทรรศน์ไมโครสโคป แบบใช้ตาส่องดูก็สามารถมองเห็น แต่เมื่ออุปกรณ์มีขนาดเล็กลง แสดงว่าชิพ Chip ขนาดจะเล็กลงมากๆ ก็จะใช้กล้องแบบเดิมไม่ได้ ต้องหันมาใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแทน กำลังขยายก็มากกว่า และข้อดียังสามารถวิเคราะห์ธาตุได้ด้วย (เพื่อFailure analysis)
การใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปประเภทนี้เช่น การดูหัวอ่านหัวเขียนของฮาร์ดดิสก์ ที่กำลังขยาย 50000 เท่า หรือแสนเท่าขึ้นไป, การดูลายปริ้น PCB, ดูรอยการเชื่อมตะกั่วระหว่างอุปกรณ์กับ PCB, การเข้าหัว Bond,การดูฝุ่น หรือสิ่งสกปรกในอุปกรณ์,การโด้ปปิ่ง ,การดูหน้าสัมผัสอุปกรณ์ประเภทรีเลย์ Relay,Magnetic,สวิทช์ และอื่นๆ



แล้วกรณีเครื่องวิเคราะห์ธาตุ EDS,EDX จะเอาไปใช้ตอนใหนละ ก็แล้วแต่กรณีละค่ะ เช่นการดูและวิเคราะห์ธาตุคราบสกปรกและฝุ่นบนแผ่น Wafer,harddisk,Switch และดูองค์ประกอบสารของวัสดุนั้นๆ ใช้ด้าน Failure analysis,R&D,QC และอื่นๆ

เรามาดูตัวอย่างไอซี IC integrated circuit ที่มีปัญหานำมาดูด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป SEM กันค่ะ ตามภาพคือไอซี IC integrated circuit ที่ปกติค่ะ แบบ 14 ขา







และลักษณะโครงสร้างภายในของ ไอซี IC integrated circuit ตามภาพ บริเวณพื้นที่สีฟ้าคือ บริเวณที่เป็นชิพ Chip ทำจากซิลิกอน Si



.." วงจรรวม หรือ วงจรเบ็ดเสร็จ (อังกฤษ: integrated circuit ; IC) หมายถึง วงจรที่นำเอาไดโอด, ทรานซิสเตอร์, ตัวต้านทาน, ตัวเก็บประจุ และองค์ประกอบวงจรต่าง ๆ มาประกอบรวมกันบนแผ่นวงจรขนาดเล็ก ในปัจจุบันแผ่นวงจรนี้จะทำด้วยแผ่นซิลิคอน บางทีอาจเรียก ชิป (Chip) และสร้างองค์ประกอบวงจรต่าง ๆ ฝังอยู่บนแผ่นผลึกนี้ ส่วนใหญ่เป็นชนิดที่เรียกว่า Monolithic การสร้างองค์ประกอบวงจรบนผิวผลึกนี้ จะใช้กรรมวิธีทางด้านการถ่ายภาพอย่างละเอียด ผสมกับขบวนการทางเคมีทำให้ลายวงจรมีความละเอียดสูงมาก สามารถบรรจุองค์ประกอบวงจรได้จำนวนมาก ภายในไอซี จะมีส่วนของลอจิกมากมาย ในบรรดาวงจรเบ็ดเสร็จที่ซับซ้อนสูง เช่น ไมโครโปรเซสเซอร์ ซึ่งใช้ทำงานควบคุม คอมพิวเตอร์ จนถึงโทรศัพท์มือถือ แม้กระทั่งเตาอบไมโครเวฟแบบดิจิทัล สำหรับชิปหน่วยความจำ (RAM) เป็นอีกประเภทหนึ่งของวงจรเบ็ดเสร็จ ที่มีความสำคัญมากในยุคปัจจุบัน
ที่มา : จากวิกิพีเดีย สารานุกรมเสรี "..

ตามภาพเป็นการเปิดส่วนที่เป็น พลาสติกเคส ออกแล้วมองเห็นบริเวณที่เป็นชิพ Chip ลักษณะสี่เหลี่ยมจัตุรัส ขนาดถ้าเทียบตามสเกล 500 um ไมครอน (0.5 mm. มิลลิเมตร) ขนาดของชิพก็จะประมาณ 1.25 x 1.25 mm.
ตามภาพด้านบนชิพ ที่เปิดจะมองเห็นหัวบอนด์ Bond 2จุดแต่สาย wiring ขาด จำนวนหัวบอนด์ส่วนใหญ่จะเท่ากับจำนวน ขาใช้งานของไอซี และด้านล่างหัวบอนด์จะเป็นวงจร Circuit และวงจรที่นำเอาไดโอด, ทรานซิสเตอร์, ตัวต้านทาน, ตัวเก็บประจุ และองค์ประกอบวงจรต่าง ๆ มาประกอบรวมกันบนแผ่นวงจร
ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x50 เท่า สเกล 500um(ไมครอน) หรือ 0.5 mm.(มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI






ตามภาพคือ วงจรที่นำเอาไดโอด, ทรานซิสเตอร์, ตัวต้านทาน, ตัวเก็บประจุ และองค์ประกอบวงจรต่าง ๆ มาประกอบรวมกันบนแผ่นวงจร
ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 750 เท่า สเกล 10um(ไมครอน) หรือ 0.01 mm.(มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI





ตามภาพคือ หัวบอนด์ Bond 2จุดแต่สาย wiring ขาด
ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x500 เท่า สเกล 50um(ไมครอน) หรือ 0.05 mm.(มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI






ตามภาพคือ หัวบอนด์ Bond แต่สาย wiring ขาด
ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 1000 เท่า สเกล 10um(ไมครอน) หรือ 0.01 mm.(มิลลิเมตร) High vacuum mode ภาพแบบ SEI




ภาพโดยรวมของ IC : integrated circuit



แบบแรกที่เราถ่าย เราต้องเปิดเคสพลาสติกหรือเรซิน ของตัวไอซีออก ตัวอย่างถ่ายแบบสูญญากาศสูง ทำให้ต้องฉาบเคลือบตัวอย่าง ด้วยทองก่อน แต่ลักษณะตัวอย่างแบบนี้ไม่ต้องฉาบเคลือบทองได้ แต่ต้องถ่ายแบบสูญญากาศต่ำหรือ Low vacuum mode แทน
มีอีกหนึ่งลักษณะที่ไม่จำเป็นต้องฉาบเคลือบทอง เพื่อต้องการไม่ทำลายตัวอย่าง และถ่ายเสร็จสามารถนำตัวอย่างไปวิเคราะห์ต่อ หรือนำไปใช้งานต่อได้ ลักษณะที่ว่าก็คือนำตัวอย่างที่ว่ามาถ่ายด้วยโหมด Low vacuum นั้นเอง ภาพที่ได้จะเป็นภาพ BEI COMPO หรือ BEI TOPO
ตัวอย่างที่เราจะนำมาวิเคราะห์แบบนี้คือ RAM ที่ใช้สำหรับ Note book




เราจะมาศึกษารอยบัดกรี ลายปริ้น และคราบสกปรกบริเวณที่บัดกรีไม่ติด ด้วยเครื่องวิเคราะห์ธาตุต่อได้




ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM
ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x50 เท่า สเกล 500um(ไมครอน) หรือ 0.5 mm.(มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO




ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM
ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 75 เท่า สเกล 100um(ไมครอน) หรือ 0.1 mm.(มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO




ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM
ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 35 เท่า สเกล 500um(ไมครอน) หรือ 0.5 mm.(มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO




ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM
ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 150 เท่า สเกล 100um(ไมครอน) หรือ 0.1 mm.(มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO



ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM เพื่อศึกษารอยบัดกรี
ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 50 เท่า สเกล 500 (ไมครอน) หรือ 0.5mm.(มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO



ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM เพื่อศึกษารอยบัดกรี
ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 150 เท่า สเกล 100 ไมครอน หรือ 0.1 mm.มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO



ตามภาพคือ อุปกรณ์ที่อยู่ PCB ที่ประกอบเป็น RAM เพื่อศึกษารอยบัดกรี
ภาพนี้ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM 20kv (กิโลโวลท์) กำลังขยาย x 1000เท่า สเกล 10 ไมครอน หรือ 0.01 mm. (มิลลิเมตร) Low vacuum mode ภาพแบบ BEI COMPO




ข้อดีถ่ายภาพแบบนี้ จะไม่เป็นการทำลายตัวอย่าง เตรียมตัวอย่างหรืองานที่จะถ่ายไม่ยาก แต่ภาพที่ได้จะเป็นแบบ BEI ที่ความคมชัด จะด้อยกว่าแบบ SEI
RAM ที่นำมาทดสอบ สามารถนำไปใช้งานต่อได้อีกค่ะ


เครื่องมือกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบส่องกราด SEM และเครื่องวิเคราะห์ธาตุเชิงปริมาณและเชิงคุณภาพ EDS,EDX ที่ใช้วิเคราะห์ความเสียหายวัสดุ

ในวงการอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ ฮาร์ดดิสก์ ไฟฟ้า ในเมืองไทยใช้กันอย่างแพร่หลาย และบริษัทใหญ่ๆ ก็ใช้เครื่องมือประเภทนี้แทบทุกบริษัท ใช้เพื่องาน Failure analysis,FA,QC,R&D เพื่อพัฒนา ตรวจสอบผลิตภัณฑ์ของตัวเอง และคู่ค้าในทางธุรกิจ
ในต่างประเทศ เช่นประเทศญี่ปุ่นจะมีเครื่องมือประเภทนี้ อยู่ในหลักสูตรการเรียนการสอน ในหลายๆสาขาที่เกี่ยวข้อง ใช้อย่างแพร่หลาย ในญี่ปุ่นมีเครื่องมือประเภทนี้หลายพันเกือบหมื่นเครื่อง แต่ในเมืองไทยมีเครื่องนี้ประมาณ 400 - 500 เครื่องเท่านั้นเอง และที่สำคัญเครื่องที่อยู่ในสถาบันการศึกษาเพียง 20% ของเครื่องที่มีทั้งหมดในประเทศ แต่พร้อมใช้งานไม่กี่สิบเครื่อง ส่วนเอกชนที่ผ่านโดยน้ำท่วมไปหลายสิบเครื่องเช่นกัน
ส่วนตัวผู้เขียนเจอเครื่องนี้เมื่อตอนเรียนวิศวะ อาจารย์แนะนำให้รู้จักหน้าตาเครื่อง การใช้งานแค่ 10 นาทีเท่านั้น น่าเสียดายซื้อเครื่องมือมาหลายสิบล้านแต่ใช้งานได้แค่ 2 ปีหลังจากนั้นใช้ไม่ได้มาตลอด ผู้เขียนมาเจอเครื่องแบบนี้และศึกษาอีกที เมื่อเรียนจบและทำงานแล้ว
อยากเห็นเครื่องไม้เครื่องมือ ตามหน่วยงานราชการ ใช้งานได้หลายสิบปี ตามราคาหลายสิบล้าน เหมือนเครื่องที่ผู้เขียนดูแลอยู่ค่ะ

บทความน่าสนใจอื่นๆ
 

สะเก็ดแผล ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ คลิก
วิเคราะห์อิฐมวลเบา อิฐเบา อิฐขาว ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM,EDS/EDX คลิก 

แป้งเด็ก แป็งเย็น ผงแป้ง ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนฯ SEM และวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS,EDX คลิก 
 เทคนิคการวิเคราะห์ธาตุด้วย EDS หรือ EDX, WDX หรือ WDS, และ EPMA แบบใหนดีกว่ากัน คลิก 
วิเคราะห์เส้นผม วิเคราะห์เส้นขน คลิก
มหัศจรรย์ผึ้งน้อย คลิก
จุลินทรีย์ คือสิ่งสิ่งมีชีวิตที่สายตาเปล่า คนเรามองไม่เห็น คลิก
การวิเคราะห์เส้นใย สิ่งทอ เส้นไหม เส้นใยสังเคราะห์ fibers คลิก
การวิเคราะห์ความเสียหายวัสดุและอุปกรณ์ ในวงการอิเล็กทรอนิกส์ เซมิคอนดักเตอร์ ฮาร์ดดิสก์ ไฟฟ้า คลิก
แร่ธาตุในข้าวหอมมะลิ คลิก
ผงชูรส และผงปรุงรส คลิก

วิเคราะห์สิว ด้วยกล้องจุลทรรศน์ คลิก
ความมหัศจรรย์ของหนวดหรือเคราฤาษี คลิก
ปากดีของมดดำ คลิก

ผมมันชั่ว ผมมันเลว คลิก
ฟองน้ำ ฟองน้ำ คลิก

เชื่อหรือไม่ว่าคือขนมปัง คลิก
แกงไก่หน่อไม้ดอง
คลิก
มาจุดธูปขอหวยกัน คลิก
พระเครื่องเก่าแก่ คลิก
บ้านและสวนสวย คลิก


ที่มา : http://www.dosem24hr.com/index.php
สถานที่ให้และรับบริการ SEM,EDS : ใกล้ฟิวเจอร์รังสิต และดรีมเวิลด์
Do SEM บริการเครื่อง SEM กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนไมโครสโคป แบบส่องกราด
วิเคราะห์ไอซี,วิเคราะห์IC,วิเคราะห์TR,วิเคราะห์Harddisk,วิเคราะห์semi conductor,วิเคราะห์wafer,วิเคราะห์Relay, วิเคราะห์electronics component,วิเคราะห์อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์,วิเคราะห์PCB,วิเคราะห์ลายปริ้น,วิเคราะห์รีเลย์, วิเคราะห์อุปกรณ์ไฟฟ้า,วิเคราะห์อุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์,วิเคราะห์ฮาร์ดดิสก์,วิเคราะห์ทรานซิสเตอร์